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臺北市联系 奧創科儀有限公司, 聚焦離子束儀(FIB), 場發射式掃描式電子顯微鏡(FE-SEM), 共軛交顯微鏡(Confocal Microscope), X-ray螢光測厚儀(XRF), 離子束剖面研磨(CP), 檢測服務, 膜厚儀 -
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