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    About Us

    奧創科儀有限公司主要是提供專業的檢測及分析服務,對象涵蓋半導體、電路板、電子電機..等相關產業,協助客戶品質控管,材質分析,產品研發及異常分析製程改善服務,可即時有效解決客戶問題,是您最佳的合作夥伴。

    目前本公司設有FIB(聚焦式離子束儀器) 、FE-SEM(場發射式掃描式電子顯微鏡) 、EDX(能量色散X-射線光譜儀) 、Confocal Microscope(共軛交顯微鏡) 、XRF(X-ray螢光測厚儀) 、離子束剖面研磨(Cross-section Polisher /CP)..等精密儀器設備,每年都會定期保養校正,並使用可追朔至JAB Lab Accreditation(ISO/IEC 17025:2005)之標準片隨時校正儀器,可確保每一次的量測精準度給您最快速的服務。

    奧 創 科 儀 有 限 公 司
    Angstrom Scientific Instrument Corp.
    業務接洽 : 柳 俊 卿
    TEL: (02)2933-5335
    FAX: (02)8192-7154
    行動: 0931.299.629
    E-Mail : Taiwan@angstrom.com.tw
    http://www.angstrom.url.tw/index.html

    檢測服務項目
    聚焦離子束儀(FIB)
    場發射式掃描式電子顯微鏡(FE-SEM)
    共軛交顯微鏡(Confocal Microscope)
    X-ray螢光測厚儀(XRF)
    離子束剖面研磨(CP)

 
文山區景豐街37巷8弄4號
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奧創科儀有限公司文山區景豐街37巷8弄4號臺北市臺北市(02)2933-5335 http://static.tuugo.tw/images/564/830/奧創科儀有限公司_.jpg http://static.tuugo.tw/images/440/479/奧創科儀有限公司_.jpg (02)8192-7154